Факультет комп'ютерних наук Чернівецького Національного Університету імені Юрія Федьковича
| Накрутка подписчиков в вк: дешевая Накрутка подписчиков в вк: дешевая накрутка подписчиков. tmsmm.ru |
Комп'ютерні системи та мережі >> Викладачі >>
Баловсяк Сергій Васильович |
| Версія для друку | |
Посада: Асистент кафедри комп’ютерних систем і мереж
Вчена ступінь та вчене звання: Кандидат фізико-математичних наук
Тематика наукових досліджень: Вдосконалення методик діагностики морфології поверхні твердого тіла методами повного зовнішнього відбивання Х-променів, включаючи експериментальні дослідження та комп’ютерну обробку отриманих результатів.
Деталізована інформація:
Навчальний заклад, який закінчив: Закінчив Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича, фізичний факультет, кафедру радіотехніки в 1995 році за спеціальністю „Конструювання та технологія радіоелектронних засобів”. Зарахований на посаду асистента кафедри комп’ютерних систем і мереж факультету комп’ютерних наук з 1 лютого 2004 року.Кандидатська дисертація:
1. Спеціальність: 01.04.07 – фізика твердого тіла
2. Тема роботи: Діагностика поверхні твердого тіла при умові повного зовнішнього відбивання Х-променів
3. Науковий керівник – Фодчук Ігор Михайлович
4. Установа, де проведено захист - Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича.
5. Автореферат
Наукові інтереси: Діагностика поверхні твердого тіла методами повного зовнішнього відбивання Х-променів. Автоматизація фізичного експерименту. Цифрова обробка зображень, розпізнавання образів. Квантові комп’ютери.
Робочий телефон: 52-64-46
Електронна адреса: -
Публікації в ліцензованих журналах:
1. Фодчук І.М., Раранський А.М., Кшевецька М.Л., Баловсяк С.В. Трьохкристальна рентгенівська рефлектометрія // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1998. - Вип.32. - С.45-51.
2. Фодчук І.М., Раранський А.М., Кшевецька М.Л., Баловсяк С.В., Соболєв В.В. Дослідження параметрів мікрошорсткості поверхні кристалів методом рентгенівської рефлектометрії // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. - 1999. - Вип.50. - С.22-25.
3. Фодчук І.М., Баловсяк С.В. Розробка контролера і програмного забезпечення для керування рентгенівським дифрактометром ДРОН-3М // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка.- 2000. - Вип. 92. – С.32-33.
4. Balovsyak S.V., Fodchuk I.M., Lytvin P.M. Determination of surface parameter of solids by methods of X-ray total external reflection // Semiconductor physics, quantum electronics and optoelectronics. - 2003. - V.6, No.1. - Р.41-46.
5. Баловсяк С.В., Фодчук И.М. Определение параметров рельефа поверхности твердого тела в случае полного внешнего отражения рентгеновских лучей // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - Т.25, №7. - С.885-897.
6. Баловсяк С.В., Фодчук И.М., Литвин П.М. Определение рельефа поверхности кристаллов методом дифференциальных кривых полного внешнего отражения рентгеновских лучей // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. - Т.25, №7. - С.899-914.
7. Баловсяк С.В., Фодчук І.М. Розробка універсальної програми для автоматизації фізичного експерименту на рентгенівських дифрактометрах // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка.- 2002. - Вип. 133. – С.42-43.
8. Баловсяк С.В., Фодчук І.М. Визначення параметрів поверхні твердого тіла методами Х-променевої рефлектометрії // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. - 2003. - Вип.157.- С.19-29.
9. Гімчинський О.Г., Баловсяк С.В., Гімчинська С.Ю. Апаратно-програмний комплекс спряження дифрактометра рентгенівського ДРОН-3М з ІВМ-сумісним комп’ютером // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах: Збірник наукових праць. - Хмельницький: ТУП, 2002. - №9. - С.90- 93.
10. Фодчук І.М., Баловсяк С.В., Кшевецький О.С., Потапов О.М. Програмне забезпечення для цифрової обробки зображень в Х-променевій топографії // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. - 2004. - Вип.201.- С.16-21.
11. Balovsyak S.V., Fodchuk I.M. New principles of diagnostics of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection // Proc SPIE. – 2004. – V.5477. – P.198-205.
12. Баловсяк С.В., Фодчук І.М. Апаратно-програмний комплекс для автоматизації фізичного експерименту на Х-променевому дифрактометрі ДРОН-4 // Вісник Хмельницького національного університету . – 2005. - №4. - С.100-103. Фодчук И.М., Баловсяк С.В. Определение параметров поверхности GaAs и SiO2 методами полного внешнего отражения рентгеновских лучей // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2005. - №7. – С.41-47.
Тези доповідей:
1. Fodchuk I.M., Raransky A.M., Balovsyak C.V., Politansky R.L., Godovaniouk V.M., Lytvynchuk I.V. X-ray reflectometry of crystal surface and multiple-layer structures // 3d International school-conference on PPMSS, 7-11 September, 1999.- Chernivtsi, Ukraine, 1999. – P.35.
2. Фодчук И.М., Раранский А.М., Баловсяк С.В, Политанский Р.Ф., Литвинчук И.В. Рентгенодифракционные исследование кристаллов и многослойных структур с квантовыми ямами // VII міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок, 4-8 жовтня 1999. – Івано-Франківськ, Україна, 1999. – С.35.
3. Фодчук И.М., Раранский А.Н., Баловсяк С.В., Политанский Р.Л., Литвинчук И.В., Ткач О.А. Рентгенодифракционные исследования кристаллов и многослойных структур с квантовыми ямами // Международная конференция, посвященная методам рентгенографической диагностики несовершенств в кристаллах, применяемых в науке и технике, 11-15 октября 1999. – Черновцы, Украина, 1999. – С.45.
4. Раранский А.Н., Баловсяк С.В., Кшевецкая М.Л. Исследование поверхности кристаллов методом рентгеновской рефлектометрии // Международная конференция, посвященная методам рентгенографической диагностики несовершенств в кристаллах, применяемых в науке и технике, 11-15 октября 1999. – Черновцы, Украина, 1999. – С.46.
5. Фодчук И.М., Баловсяк С.В., Раранский А.Н., Фесив И.В. Новые возможности рентгеновской дифракционной оптики // Международная конференция, посвященная методам рентгенографической диагностики несовершенств в кристаллах, применяемых в науке и технике, 11-15 октября 1999. – Черновцы, Украина, 1999. – С.44.
6. Фодчук И.М., Раранский Н.Д., Баловсяк С.В., Кройтор О.В, Литвинчук И.В. Ренгеновская структурная диагностика наноструктур и границ раздела гетерофазных систем // VIІI міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок, 14-19 травня 2001. - Івано-Франківськ, Україна, 2001. - С.54.
7. И.М.Фодчук, Н.Д.Раранский, С.В.Баловсяк, О.В.Кройтор. Исследования наноструктур и границ раздела гетерофазных систем рентгеновскими методами // ІІІ национальная конференция по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов, 21-25 мая 2001. – Москва, Россия, 2001. – С.267.
8. Баловсяк С.В., Фодчук И.М., Шелудько М.С. Диагностика поверхности твердого тела методами рентгеновской рефлектометрии // IХ міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок, 19-24 травня 2003. - Івано-Франківськ, Україна, 2003. - С.135-136.
9. Tkachuk P.N., Balovsyak S.V., Raransky N.D., Tkachuk V.I., Fodchuk I.M. Commercially available semiconductor gamma-detector with the high energy resolution due to deconvolution // 5th International Workshop on Radiation Imaging Detectors, 7-11 September 2003. - Riga, Latvia, 2003. – P.82-83.
10. Balovsyak S.V., Fodchuk I.M. New principles of diagnostics of surface parameters of solids by methods of X-ray total external reflection // 6th International Conference on Correlation Optics, 16-19 September 2003. – Chernivtsi, Ukraine. – P. 198 - 199.
11. Tkachuk P.N., Balovsyak S.V., Raranskii N.D., Tkachuk V.I., Fodchuk I.M. CdTe Gamma-detector with the high energy resolution due to deconvolution // International scientific-technical conference “Sensors Electronics and Microsystems technology”, 1-5 June 2004. – Odessa, Ukraine, 2004. – C.126.
12. Fodchuk I.M., Balovsyak S.V. Determination of Surface parameters of GaAs and SiO2 by methods of X-Ray Total External Reflection // 7th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging, 7-10 September 2004. – Congress Center Pruhonice near Prague, Czech Republic, 2004. – P.18.
13. Баловсяк С.В., Фодчук И.М. Диагностика микрорельефа поверхности в условиях полного внешнего отражения рентгеновских лучей // II Українська наукова конференція з фізики напівпровідників, Т.1, 20-24 вересня 2004. – Чернівці - Вижниця, Україна, 2004. – С.181.
14. Баловсяк С.В., Фодчук И.М., Потапов О.Н. Методы цифровой обработки изображений в рентгеновской топографии // II Українська наукова конференція з фізики напівпровідників, Т.2, 20-24 вересня 2004. – Чернівці - Вижниця, Україна, 2004. – С.415-416.
15. Заплитный Р.А., Фодчук И.М., Баловсяк С.В. Рентгеновская топография и дифрактометрия тонких приповерхностных слоев монокристаллов // II Українська наукова конференція з фізики напівпровідників, 20-24 вересня 2004. – Чернівці - Вижниця, Україна, 2004. – С.423.
16. Потапов О.М., Фодчук І.М., Баловсяк С.В. Розробка методів цифрової обробки зображень в Х-променевій топографії // Студентська наукова конференція, присвячена 170-річчю з дня народження Юрія Федьковича, фізико-математичні науки, 12-13 травня 2004. – Чернівці, Україна, 2004. - С.251-252.
17. Сєдін П.С, Раранський М.Д., Баловсяк С.В. Ефекти повного зовнішнього відбивання Х-променів у різних структурах // Студентська наукова конференція, присвячена 170-річчю з дня народження Юрія Федьковича, фізико-математичні науки, 12-13 травня 2004. – Чернівці, Україна, 2004. -С.273-274.
18. Мельник К. (Науковий керівник – Баловсяк С.В.) Програмно-технологічний комплекс аналізу й керування навчальним процессом в ВНЗі з використанням Off-Line клієнта // Матеріали студентської наукової конференції, 11-12 травня 2005. Фізико-математичні науки. – Чернівці: Рута, 2005.– С.244-245.
19. Москалюк В. (Науковий керівник – Баловсяк С.В.) Програмне забезпечення для адаптивного видалення фону зображення // Матеріали студентської наукової конференції, 11-12 травня 2005. Фізико-математичні науки. – Чернівці: Рута, 2005.– С.313- 314.
20. Баловсяк С.В., Фодчук И.М. Анализ и цифровая обработка рентгенотопографических изображений // Ювилейная Х международная конференция по физике и технологии тонких пленок, Т.1, 16-21 мая 2005. – Ивано-Франковск, Украина, 2005. – С.165-166.
21. Баловсяк С.В., Фодчук И.М. Использование фрактального подхода при восстановлении профиля и рельефа поверхности методами полного внешнего отражения рентгеновских лучей // Ювилейная Х международная конференция по физике и технологии тонких пленок, Т.1, 16-21 мая 2005. – Ивано-Франковск, Украина, 2005. – С.166-167.